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介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品簡介

介電常數(shù)測試儀 型號:HAD-Y2858

HAD-Y2858系列由頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

產(chǎn)品型號:HAD-Y2858
更新時(shí)間:2018-08-20
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:669

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詳細(xì)介紹
產(chǎn)地類別國產(chǎn)

介電常數(shù)測試儀  型號:HAD-Y2858

 

HAD-Y2858系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。     

HAD-Y2858系列作頻率范圍是20Hz~1MHz,它能成作頻率內(nèi)對緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

HAD-Y2858系列中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器般用來夾被測樣品,配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

1 點(diǎn):                            
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1~105

2 主要標(biāo):

2.1 ε和D性能:

2.1.1 固體緣材料測試頻率20Hz~1MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,

2.1.3 ε和D測量度(10kHz):ε:±2% ,  D:±5%±0.0001。

2.2頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋

型號

HAD-Y2817

HAD-Y2818A

作頻率范圍

100Hz~100kHz(6個(gè)頻點(diǎn))

度:±0.05%

20Hz~1MHz

數(shù)字合成,度:±0.02%

電容測量范圍

0.0001pF~99999μF

四位數(shù)顯

0.00001pF~9.99999F

六位數(shù)顯

電容測量基本誤差

±0.05%

±0.05%

損耗因素D值范圍

0.0001~9.9999

四位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

 

2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測試裝置(含保護(hù)電)

2.3.1 平板電容器片尺寸:Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.001mm
2.3.3插頭間距:與電橋四端配合

加溫控溫裝置(選購設(shè)備)可以成200℃控溫度l℃加熱測試

HAD-Y918 介電常數(shù)測試裝置提供四種不同直徑測試電,能對直徑φ10~56mm,

厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電法,薄膜電法和

非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率:10μm

2.4.2 耐壓:±42Vp(AC+DC)

2.4.3 電纜長度設(shè)置:1m

2.4.4 使用頻率:30MHz 

2.5 頻介質(zhì)樣品(選購件):
  在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定為頻介質(zhì)損耗測量儀

提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人藍(lán)寶石,石英玻璃,

氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。

用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

2.6 HAD-Y2858系列 配置

 

配置類型

普及型

標(biāo)準(zhǔn)型

電橋作頻率范圍

100Hz~100kHz

度:±0.02%

50Hz~1MHz

度:±0.02%

50Hz~1MHz

度:±0.02%

配置型號

WY2817數(shù)字電橋

+WY916B測試裝置

WY2818A頻阻抗分析儀

+WY916B三電測試裝置

WY2818A頻阻抗分析儀

+WY918測試裝置

(能適宜各種樣品)

介電常數(shù)范圍

1-10000

度:±5%

1-10000

度:±2%

1-10000

度:±2%

損耗因素D值范圍

0.0001~9.9999

四位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

 

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