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磁光效應(yīng)綜合實驗儀 法拉效應(yīng)和磁光調(diào)制 型號;HAD-FD-MOC-A1945年,法拉(Faraday)在探索電磁現(xiàn)象和光學現(xiàn)象之間的聯(lián)系時,發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象,當束平面偏振光穿過介質(zhì)時,如果在介質(zhì)中,沿光的傳播方向上加個磁場,就會觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉(zhuǎn)過個角度,亦即磁場使介質(zhì)具有了旋光性,這種現(xiàn)象后來稱為法拉效應(yīng)。 法拉效應(yīng)有許多應(yīng)用,它可以作為物質(zhì)研究
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磁光效應(yīng)綜合實驗儀 法拉效應(yīng)和磁光調(diào)制 磁光效應(yīng)綜合實驗儀 法拉效應(yīng)和磁光調(diào)制 型號;HAD-FD-MOC-A
1945年,法拉(Faraday)在探索電磁現(xiàn)象和光學現(xiàn)象之間的聯(lián)系時,發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象,當束平面偏振光穿過介質(zhì)時,如果在介質(zhì)中,沿光的傳播方向上加個磁場,就會觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉(zhuǎn)過個角度,亦即磁場使介質(zhì)具有了旋光性,這種現(xiàn)象后來稱為法拉效應(yīng)。
法拉效應(yīng)有許多應(yīng)用,它可以作為物質(zhì)研究的手段,可以用來測量載子的有效質(zhì)量和提供能帶結(jié)構(gòu)的知識,還可以用來測量電路中的電和磁場,別是在激光中,利用法拉效應(yīng)的性可以制成光隔離器、光環(huán)形器和調(diào)制器等。
HAD-FD-MOC-A型磁光效應(yīng)綜合實驗儀,是臺綜合研究磁光效應(yīng)的實驗儀器,通過該實驗儀可以學習法拉效應(yīng)的原理,并通過偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數(shù),還可以通過磁光調(diào)制的方法確定消光位置,從而提測量度,這種由淺入深的測量方法使學生理解測量的方法。并通過調(diào)制的方法可以測量不同磁光樣品的光學性和征參量,另外該儀器可以顯示磁光調(diào)制波形,觀測磁光調(diào)制現(xiàn)象,研究調(diào)制幅度和調(diào)制深度的原理。本儀器有下列性:1)可對磁光效應(yīng)差異懸殊的多種磁光介質(zhì)行實驗;2)具有大幅度的交調(diào)制信號和直勵磁,且穩(wěn)勵磁正負連續(xù)可調(diào);3)光強輸出大小用數(shù)字顯示,直觀;4)調(diào)制光接收靈敏度,輸出波形穩(wěn)定;5)檢偏裝置帶游標測角機構(gòu),分辨率。
儀器主要參數(shù):
1.磁光介質(zhì) 法拉旋光玻璃
2.激光光源 半導體激光器(波長650nm)輸出率 <2.5mW
3.直勵磁電 0—5A(連續(xù)可調(diào),數(shù)字顯示)
4.調(diào)制信號 頻率500Hz(正弦波)
5.起偏器角度分辨率 1度
6.檢偏分辨率 約3分