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手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號(hào):HAD-3概述HAD-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。儀器成套組成:由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成,也可加配測試臺(tái)。
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手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號(hào):HAD-3
概述
四探針檢測儀HAD-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成,也可加配測試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校能;手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動(dòng)場合操作使用!
探頭選配:根據(jù)不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點(diǎn)與選型參考》入
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 0.010 ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ~ 10 Ω
電 阻 率: 0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD
方塊電阻: 0.050~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺(tái)則由選配測試臺(tái)決定如下:
直 徑:HADT-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15~130HADHAD。
HADT-C方測試臺(tái)直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。
長()度:測試臺(tái)直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
量程劃分及誤差等
量程(Ω-cm/□) | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
電阻測試范圍 | 0.010~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
4) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重:≤0.3kg
010-51655247