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臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C

概述
HAD-2258C型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直四探針法》并參考美 A

產(chǎn)品型號(hào):HAD-2258C
更新時(shí)間:2018-09-26
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:412

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

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詳細(xì)介紹
品牌TESTO/德國(guó)德圖產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)

數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C

臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀概述
HAD-2258C型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直四探針法》并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等分組成。
主機(jī)主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校能;電壓電自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類能,大分類10類。
探頭選配:根據(jù)不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭,也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測(cè)試臺(tái)選配:般四探針法測(cè)試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測(cè)試臺(tái)。二探針法測(cè)試電阻率測(cè)試選HAD-T-K型測(cè)試臺(tái),也可選配HAD-T-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率,選配HAD-T-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率(括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量)
電    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω
         (1.0×10-6 ~ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm
         (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方塊電阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103  Ω/□ 
         (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω/□)
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直    徑: HAD-T-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(zhǎng)()度:  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
測(cè)量方位:  軸向、徑向均可

量程劃分及誤差等

 

滿度顯示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

常規(guī)量程

kΩ-cm/□

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

---

大拓展量程

---

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

mΩ-cm/□

基本誤差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±0.5%FSB

±4LSB

±1.0%FSB

±4LSB

 

作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W

5.外形尺寸: 245mm(長(zhǎng))×220 mm(寬)×95mm()

凈   重:≤1.5~2.0kg

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TEL:15811023934